电子产品因元器件失效造成的整机失效一直占比居高不下，电子元器件本身及使用的可 靠性保障对于电子产品整机可靠性的提高具有关键的作用。ATEC研发的高低温（湿热）、快速温度变化以及多因素综合试验箱，通过模拟元器件的工作环境来验证其可靠性，提高电子产品整机的可靠性。 电子行业： CH系列 高低温（湿热）试验箱 ESS系列 高低温快速温度变化试验箱 CVTH系列 温度/湿度/振动综合试验箱